Boundary-Scan-Testverfahren

Boundary Scan ist eine Technologie, die den immer komplexeren Strukturen auf ICs und auf Leiterplatten Rechnung trägt. Dieses Testverfahren ermöglicht den Zugriff auf die einzelnen Bauteile und ICs auf einer Leiterplatte ohne diese direkt kontaktieren zu müssen. In diesem Versuch wird mit Hilfe des Boundary-Scan-Kozepts eine Leiterplatte getestet.

Boundary-Scan-Architektur