Arbeitsgebiete

  • Topografiebestimmung technischer Oberflächen (Geometrie und Rauheit)
  • Topografiebestimmung von Mikrostrukturen
  • Bestimmung optischer Eigenschaften von Bauteilen und Materialien

 

Leistungsangebote

  • Optische Charakterisierung von Mikrostrukturen
  • Charakterisierung optischer Bauteile und Materialien hinsichtlich refraktiver, spektraler und polarisationsoptischer Eigenschaften
  • Optische Strukturuntersuchung mittels OCT
  • Forschungskooperationen

 

Ausstattung

  • Konfokales Mikroskop
  • Chromatischer Sensor
  • Optische Kohärenztomografie
  • Weißlicht-Reflektometrie (Schichtdickenmessung, Transmission, Reflexion)
  • Multiwellenlängen-Refraktometer (Brechungsindex im VIS und IR)
  • Spektrogonioradiometer (Radiometrie und Photometrie von LED und anderen Srahlquellen)
  • Hochauflösender optischer Spektrumanalysator (spektrale Analyse im Bereich 350-1700 nm)
  • Lasermesstechnik (Leistung, Energie, Wellenlänge, Polarisation)
  • Messplatz zur Charakterisierung von Linsen (BFL, EFL, MTF, Linsenfehler)
  • Shack-Hartmann-Sensor (Wellenfrontanalyse)

In Kooperation mit anderen Arbeitsgruppen der Abteilung Materials stehen zudem zur Verfügung

  • Raster-Elektronen-Mikroskop
  • Rasterkraft-Mikroskop
  • Computertomograf
  • Röntgenfluoreszenzanalyse
 

ZeWiS-Zentrum für wissenschaftliche Services
Glanzstoffstraße 1, Geb. Wa 07
63784 Obernburg